El difractómetro de rayos X es una de las herramientas fundamentales para investigaciones en nanotecnología en el IMAM.
El Instituto de Materiales de Misiones haciendo diferencia en nanotecnología en la región
El IMAM adquirirá un espectrómetro XPS de alta performance para análisis superficial de materiales nanotecnológicos, complementando equipos previos.
Una de las últimas adquisiciones de equipamiento para el Instituto de Materiales de Misiones, conseguida gracias al programa Equipar Ciencia, consiste en la próxima incorporación de un espectrómetro de fotoelectrones inducidos por rayos X (XPS) a los laboratorios del IMAM. Este avanzado instrumento tecnológico de alto rendimiento permitirá realizar análisis superficiales, especialmente en investigaciones que involucran la implementación de nuevos materiales nanotecnológicos y sus características distintivas.
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